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半導體鍍層分析儀 Thick800A 無損檢測 無需校準
  • 半導體鍍層分析儀 Thick800A 無損檢測 無需校準
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產品描述

檢測對象固體,液體,粉末狀 分析時間60s(可調) 操作難度 應用領域進出口產品ROHS測試 外觀灰白色 環境使用要求無震動及腐蝕實驗室 耗材 可出售地全國 額外設備有配備電腦主機 可售賣地全國 顯示方式微米 測量范圍硫~鈾
鍍層測厚儀關鍵有以下主要優點: 
1、測量速度快,具有單次和連續2種測量方式可選擇。
2、精度高 ,自動記憶校準值和自動識別被測基體的材質。
3、鍍層測厚儀穩定性高,操作測量時會有蜂鳴器提示音和連續測量時蜂鳴器不發聲提示。
4、 功能、數據、操作、顯示全部是中文測量方法。
覆層厚度的測量方法關鍵有:楔切法,光截法,電解法,厚度差測量法,稱重法,X射線熒光法,β射線反向散射法,電容法、磁性測量法及渦流測量法等。這些方法中前五種是有損檢測,測量手段繁瑣,速度慢,多適用于抽樣檢驗。
鍍層測厚儀采用了電渦流原理以及霍爾效應測量的原理。主要用于測量金屬以及非金屬等基體上的油漆層、電鍍層等非磁性材料的厚度。可以無損的測量出涂鍍層的厚度。
廣泛應用在電鍍、噴涂、管道防腐、鋁型材、鋼結構、印刷線路版、及絲網印刷等行業中。特別適合用于生產現場的質量管控。
半導體鍍層分析儀
鍍層測厚儀因為采用的是主機與探頭分離式的設計,所以在購買時有兩個不同量程的探頭可以選擇。F5N3的探頭,大量程厚可以測到5mm,F3N3的探頭,厚可以測到3mm。
在測量以mm為單位的鍍層厚度時,大量程的鍍層測厚儀LS223就可以滿足您的測量需求。客戶在選購時可以根據測量材料的厚度來選擇相應的探頭。鍍層測厚儀90天無理由退換貨,不滿意都可以退。
半導體鍍層分析儀
鍍層測厚儀特點
實用特點一:0.5秒就可以無損測量出涂層以及鍍層的厚度。并且自動識別測量的基材。
實用特點二:市面上的鍍層測厚儀,在使用時都是需要校準的,但林上的鍍層測厚儀LS223,無需校準,只需凋零,儀器調零完畢后即可開始測量。
實用特點三:儀器只有一個按鍵,省去繁瑣操作,測量更加的簡單。
實用特點四:測頭采用真正的紅寶石,非常的耐磨和耐腐蝕,可以保證鍍層測厚儀LS223長久有效的使用。
實用特點五:探頭采用了的數字探頭,這種探頭不容易收到干擾,而且還提供優良的測試精度,即使溫度變化也不受影響。
實用特點六:有F3N3探頭和F5N3探頭可選擇F5N3探頭的量程范圍是5mm,F3N3探頭的量程范圍是3mm。鐵鋁兩用,特別適用于大厚度的涂層檢測。
半導體鍍層分析儀
我們服務宗旨是:以質量求生存、信譽是保證。誠信待人,靈活經營、講究效率。愿與各界朋友精誠合作,攜手共創美好的明天。
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