鍍層測厚儀是將X射線照射在樣品上,通過從樣品上反射出來的倒研鹽帶才束新第二次X射線的強度來。測量鍍層通項宜到乎科優(yōu)集連肥硫等金屬薄膜的厚度,因為沒有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線只有45-75W左右,所以不會對樣品造成損壞。同時,測量的也可以在10秒到幾分鐘內(nèi)完成。原理:X射線熒光 X射線存在于電磁波譜中的一個特定區(qū)域,它由原子內(nèi)部電子躍遷產(chǎn)生,其波長范圍在0。1-100?;能量大于100電子伏特。 X射線熒光是一個原子或分子吸收了特定能量的光條屋科煤子后釋放出較低能量的光子的過程。 X ray fluorescence 物質(zhì)受原級X射線或其他光子源照射,受激產(chǎn)生。<